Dois chineses se declaram culpados por invadir e fotografar base dos EUA

Os chineses Jielun Zhang e Yuhao Wang se declararam culpados diante de corte americana de fotografar ilegalmente instalações militares na base naval de Key West, no estado da Flórida.

A confissão foi feita nesta terça-feira (3) em uma corte da Justiça americana.

Desta forma, Jielun Zhang e Yuhao Wang, ambos de 24 anos, poderão enfrentar até um ano de prisão.

A leitura da sentença está marcada para 11 de maio, conforme informou a agência AP.

Fotos proibidas

Os dois cidadãos foram detidos ainda em janeiro deste ano, após terem entrado na base naval de Key West, na Flórida, e tirado fotos de instalações do local.

Antes de captarem as fotos, os dois homens foram avisados pela guarda do local da proibição de entrar na zona militar.

Contudo, a dupla desconsiderou o aviso e entrou no recinto, tendo posteriormente sido detidos.

Quarto caso

Zhang e Wang não são os primeiros cidadãos chineses a serem processados por tirarem fotos da instalação militar.

Um outro caso ocorreu em setembro do ano passado com Zhao Qianli, um estudante de música da China, o qual foi condenado a um ano de prisão após tirar fotos ilegais da mesma base militar.

Desde o outono de 2018, quatro cidadãos chineses já foram presos sob a acusação de fotografar instalações militares em Key West.